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檢測服務項目
PROJECT
SEM-顆粒物分析軟件
顆粒物分析軟件，針對各種灰度與基體不同的顆粒物進行分析及統計,顆粒物尺度可至納米級別。 >
自動礦物分類，可得到礦物組成，礦物顆粒及礦物單體顆粒的礦物組成，樣品的元素組成，礦物顆粒及礦物單體顆粒的元素組成，礦物元素的分布，礦物顆粒及礦物單體顆粒的分布，礦物顆粒及礦物單體顆粒尺寸、形態、比重信息，礦物及劑礦物元素回收率及品味估算，礦物生存關系，礦物礦相表面積比，礦物的連生關系，礦物的解離度等信息。 >
SEM-礦物分析軟件
SEM-EBIC
要進行EBIC測試的樣品必須是半導體材料且含有內電場，用于分離電子空穴對 >
微米納米連接平臺，利用LM與SEM兩種設備對同一區域實現快速定位、對比、分析。省去了不斷尋找分析區域的繁瑣過程。 >
SEM-光學顯微鏡
SEM-XPS-SIMS
SEM-XPS-SIMS >
掃描電鏡-拉曼光譜聯用可以對樣品進行微區原位分析，實現對樣品的系統性分析測試。鑒于可以從同一點采集掃描電鏡數據與拉曼光譜數據，能夠對樣品表面形貌和物質分子結構的關系進行快速直觀的表征。以SEM圖像為基礎，可以更準確地對樣品選擇測試區域進行快速、無損的物質成分分析，得到準確的樣品組成數據。 >
SEM-RAMAN
復制成功
微信號:13126536208
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