2025|半導(dǎo)體工藝與器件失效分析技術(shù)論壇,掃描電鏡(SEM)與原子力顯微鏡(AFM)之電學(xué)功能在半導(dǎo)體工藝與器件失效分析上的應(yīng)用,主講嘉賓賴?yán)铨?(摻流科技總經(jīng)理),生于臺(tái)灣,擁有臺(tái)灣清華大學(xué)物理學(xué)士/碩士及復(fù)旦大學(xué)材料科學(xué)博士學(xué)位,經(jīng)歷過(guò)中芯國(guó)際/芯恩/半導(dǎo)體制造行業(yè)從業(yè)超過(guò)27年(始于1998年2月)華為等半導(dǎo)體大廠。
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