分 辨 率:3nm </br> 電子探針是一種利用電子束作用樣品后產生的特征X射線進行微區成分分析的儀器,可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外,還有U元素以后的元素以外都可進行定性和定量分析。可以進行點、線掃描、面掃描分析。 " />
附件:波譜儀(*3)、能譜儀(*1)
分析元素 :B-U
分 辨 率:3nm
電子探針是一種利用電子束作用樣品后產生的特征X射線進行微區成分分析的儀器,可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外,還有U元素以后的元素以外都可進行定性和定量分析。可以進行點、線掃描、面掃描分析。
例:電池粉末EPMA面分布測量結果
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