滌綸纖維材料自其問世以來，就憑借著獨特的物理化學性能實現了廣泛的應用，因此也成為合成纖維中發展快、產量高的一個種類。
用掃描電鏡來觀察纖維的表面結構，不僅可以根據纖維所具有的自然特征或橫截面的形狀來鑒別纖維的種類，更進一步可觀察不同的紡絲工藝、紡紗工藝、染、織工藝以及纖維的化學變性、對纖維和織物所進行的物理、化學后整理工藝是如何改變纖維表面的微細結構，而纖維表面結構直接影響到纖維的許多重要的紡織功能。采用掃描電鏡能直觀地看到纖維表面的真實形貌，對滌綸纖維材料的生產工藝和改性都有著重要的作用。
滌綸材料的導電性較差，在掃描電鏡中直接觀察需在表面噴鍍或者使用低電壓條件觀察，這對掃描電鏡的設備要求較高并可能會在一定程度上影響纖維表面的真實形貌。在本應用分享中，我們采用Thermo Scientific™ Axia™ ChemiSEM系統，使用獨有的低真空模式在高電壓條件下實現對不導電滌綸纖維樣品的大尺度觀察。同時，對滌綸纖維的化學成分變化進行高效、快速地分析。如圖所示，在15kV的高電壓條件下，樣品沒有發生熱變形，沒有荷電現象產生，圖像畫面清晰，表面細節明顯。
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Axia ChemiSEM將傳統SEM的各種成像模式與實時元素定量面分析功能全面集成在一起，可以快速識別更大面積范圍內的各類異物，一鍵獲取實時元素分析結果。如下圖所示，使用Axia ChemiSEM在低真空模式下獲取的纖維表面成分分析結果，同時包含SEM和EDS數據，采集時間僅需幾分鐘即可獲取表面異物顆粒的成分信息。我們利用EDS元素點分析的方法準確定量分析異物元素，Axia ChemiSEM用戶界面完全集成了傳統EDS的所有功能，在對特征區域進行定點元素分析時，不需要切換到其他軟件就可以完成分析，可隨時對樣品表面的異物進行檢測，大大提高了分析效率。
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全新一代 Thermo Scientific™? Axia™? ChemiSEM 智能型鎢燈絲掃描電鏡，可在低電壓及電子束減速模式配合經典的 CBS 探頭（同軸環狀背散射探頭）對不導電樣品在不鍍金的條件下的成像性能，在不鍍膜的情況下對不導電樣品進行更真實的能譜元素分析。可用來觀察各種經物理、化學處理后的纖維的真實形貌，再通過掃描電鏡獲得的形貌信息和成分信息，幫助客戶對纖維材料的生產工藝進行合理的選擇和改善。
